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GB/T 7092-1993 半导体集成电路外形尺寸

时间:2024-05-15 13:54:01 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8839
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基本信息
标准名称:半导体集成电路外形尺寸
英文名称:Outline dimensions of semiconductor integrated circuits
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合
ICS分类: 电子学 >> 集成电路、微电子学
替代情况:GB 7092-1986
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1986-01-02
实施日期:1993-08-01
首发日期:1986-12-19
作废日期:1900-01-01
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:上海无线电十九厂
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:37, 字数:70千字
适用范围

本标准规定了半导体集成电路的外形尺寸。本标准适用于器件的成品尺寸的检验。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
【英文标准名称】:Connectorsforelectronicequipment-Testsandmeasurements-Part9-3:Endurancetests-Test9c:Mechanicaloperation(engaging/separating)withelectricalload(IEC60512-9-3:2006);GermanversionEN60512-9-3:2006
【原文标准名称】:电子设备连接器.试验和测量.第9-3部分:耐久性试验.试验9c:电子载荷的机械操作(啮合的/分离的)(IEC60512-9-3:2006)
【标准号】:EN60512-9-3-2006
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2006-11
【实施或试行日期】:2006-11-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:组件;详细规范;电插头;电的;电气元件;电气工程;机电装置;机电学;电子工程;电子设备;电子仪器;耐久试验;耐用试验;寿命;负荷;测量;测量技术;力学;试验
【英文主题词】:Components;Detailspecification;Electricplugs;Electrical;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electromechanicaldevices;Electromechanics;Electronicengineering;Electronicequipment;Electronicinstruments;Endurancetesting;Endurancetests;Life(durability);Loading;Measurement;Measuringtechniques;Mechanic;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L23
【国际标准分类号】:31_220_10
【页数】:11P.;A4
【正文语种】:英语